|
|
| 圖 片 |
設備名稱 |
制造商 |
型號 |
年份 |
詳細配置 |
狀 態(tài) |
 |
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統(tǒng) |
KLA |
SP2 |
- |
設備完整不缺件,有2臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
 |
KLA SF27缺陷檢測 |
KLA |
SF27 |
- |
設備完整不缺件; |
國內(nèi)
|
 |
KLA candela CS20表面分析儀 |
KLA |
CS20 |
2010 |
設備完整不缺件; |
國內(nèi)
|
 |
KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測 |
KLA |
Leica INS3300 |
2015 |
設備完整不缺件; |
國內(nèi)
|
|
KLA Candela 8420表面缺陷檢測系統(tǒng) |
KLA |
Candela 8420 |
2020 |
2-8"設備完整不缺件,20年入廠,設備 |
國內(nèi)
|
 |
KLA P15臺階儀 |
KLA |
P15 |
- |
設備完整不缺件,質(zhì)保3月加3萬元; |
國內(nèi)
|
 |
KLA RS55方阻測試儀 |
KLA |
RS55 |
2000 |
設備完整不缺件,有2臺現(xiàn)貨(有臺缺件,打 |
國內(nèi)
|
 |
KLA 2132缺陷檢測儀 |
KLA |
2132 |
1996 |
設備完整不缺件,安裝調(diào)試加70W左右,備 |
國內(nèi)
|
 |
KLA 2135缺陷檢測 |
KLA |
2135 |
1998 |
在線熱機,設備完整不缺件,安裝調(diào)試加10 |
國內(nèi)
|
 |
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統(tǒng) |
KLA科磊 |
SP2 |
2001 |
設備缺件; |
國內(nèi)
|
 |
KLA Tencor SFS6420晶圓檢測 |
KLA科磊 |
SFS6420 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統(tǒng) |
KLA |
UV1280SE |
2000 |
已翻修完無缺件,可驗機保固3個月; |
國內(nèi)
|
 |
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA |
SFS6220 |
- |
設備完整不缺件,正運回中國; |
國內(nèi)
|
 |
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
SFS6220 |
2001 |
設備完整不缺件; |
國內(nèi)
|
 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測系統(tǒng) |
KLA |
SFS6200 |
1992 |
設備完整不缺件; |
國內(nèi)
|
|
KLA 2131缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
2131 |
- |
6"備件機; |
國內(nèi)
|
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"備件機; |
國內(nèi)
|
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"備件機; |
國內(nèi)
|
|
KLA Viper 2401缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
Viper 2401 |
- |
6"備件機; |
國內(nèi)
|
|
KLA Tencor 7700缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
Tencor-7700 |
- |
6"備件機; |
國內(nèi)
|
|
KLA AIT 1缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
AIT 1 |
- |
6"備件機; |
國內(nèi)
|
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"備件機; |
國內(nèi)
|
|
KLA OP2600膜厚儀 |
KLA |
OP2600 |
- |
設備完整不缺件,正運回中國; |
國內(nèi)
|
 |
KLA RS75方阻測試儀 |
KLA |
RS75 |
2000 |
設備完整不缺件; |
國內(nèi)
|
|
KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測 |
KLA科磊 |
SP3 |
- |
設備完整不缺件,含序列號; |
國內(nèi)
|
|
KLA EDR 5200+電子束缺陷檢查設備 |
KLA |
5200+ |
- |
設備完整不缺件,無硬盤; |
國內(nèi)
|
|
KLA CANDELA CS2薄膜測量 |
KLA |
CANDELA CS2 |
- |
- |
國內(nèi)
|
|
KLA AIT II-I缺陷檢查儀 |
KLA |
AIT II-I |
2001 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA 2133缺陷檢查儀 |
KLA |
2133 |
2011 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA 2132缺陷檢測儀 |
KLA |
2132 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA CRS1010缺陷檢查儀 |
KLA |
CRS1010 |
1995/1996 |
設備完整不缺件,有2臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA TENCOR AIT 8010缺陷檢查儀 |
KLA |
TENCOR AIT 8010 |
1998 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA TENCOR SFS 7700顆粒測試儀 |
KLA |
TENCOR SFS 7700 |
1995*2 |
設備完整不缺件,有2臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA TENCOR SFS 7600顆粒測試儀 |
KLA |
TENCOR SFS 7600 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA TENCOR SFS 7600M顆粒測試儀 |
KLA |
TENCOR SFS 7600M |
1994/1995 |
設備完整不缺件,有2臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA TENCOR VP10E阻值測試儀 |
KLA |
TENCOR VP10E |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA TENCOR VP10阻值測試儀 |
KLA |
TENCOR VP10 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA TENCOR Mgage300阻值測試儀 |
KLA |
TENCOR Mgage300 |
1993 |
設備完整不缺件,有1臺現(xiàn)貨; |
國內(nèi)
|
|
KLA P170探針式表面檢測儀 |
KLA |
P170 |
2022 |
設備完整不缺件; |
國內(nèi)
|
頁次：
1
/ 1頁 每頁：100 設備數(shù)：39
9[1]: 總共有1頁
|
|
